試基板-300x200.jpg "PEEK IC測(cè)試基板")
試插座-300x200.jpg "PEEK IC測(cè)試插座")
試零件-300x200.jpg "PEEK CPU冷熱測(cè)試零件")
試座-300x200.jpg "PPS 測(cè)試座")
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PEEK IC測(cè)試座
PEEK在很廣的溫度范圍內(nèi)，保持良好的電氣性能、尺寸穩(wěn)定性和耐磨性，適合長時(shí)間高溫環(huán)境下使用，可以延長IC測(cè)試座工作使用壽命，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
PEEK在很廣的溫度范圍內(nèi)，保持良好的電氣性能、尺寸穩(wěn)定性和耐磨性，適合長時(shí)間高溫環(huán)境下使用，可以延長IC測(cè)試座工作使用壽命，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
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